检测实验室
检测实验室拥有PE Aivo200电感耦合等离子体发射光谱仪、SPECTRO MAXx原子发射直读光谱仪、GD Profiler2射频辉光放电光谱仪、VG9000辉光放电质谱仪(GDMS)、TESCAN VEGA3钨灯丝扫描电镜、JEM-2100F场发射透射电子显微镜、OLYMPUS BX51M 正置反射全功能专业偏光显微镜、KEYENCE VW-9000 超景深高速摄影仪、Netzsch STA449 F3差示扫描量热分析仪。
同时，还与上海交大分析测试中心、中科院上海光机所、中铝材料应用研究院等科研单位保持良好的技术合作关系。我方可以统筹利用国内外智力资源和分析检测平台，完全具备痕量及微量化学成分、微观组织及结构、力学性能、热学性能、电学性能等方面的检测分析能力，为技术研发提供坚实保障。
一、成分分析
| 仪器名称 | 图片 | 仪器性能简介 |
| ICP分析仪 |  | 可对未知样品进行多达70种元素全谱扫描，测定样品中无机元素的种类及元素含量的范围；可对样品中元素含量进行准确定量分析，检测元素下限为0.1ppm，上限为20%。超出范围的元素需结合其他分析手段共同分析。 |
| 直读光谱仪 |
| 适合于科研检测新材料，痕量元素，夹杂物，高纯金属以及贵金属。全CCD模块实现了快速，准确，超级灵活的分析性能。尤其适合快速分析和多基体，多元素分析的应用。为炉前过程控制和成品质量控制和成品质量控制提分析结果。 |
| 辉光放电质谱仪 |
| GD-MS 辉光放电质谱仪是直接分析金属、半导体和陶瓷粉的最佳工具。可达到低至亚 ppb 级的检出限，拥有 12 个数量级线性动态范围的全自动检测器，可在一次扫描中同时测定基体、痕量、超痕量元素。可准确分析72种元素。 |
| 射频辉光放电光谱仪 |
| 对样品分析区域进行层层剥蚀并实时监测所有感兴趣元素。非常适合于导体、非导体复合镀层、膜层结构的分析。一次测试即可轻松获取镀层元素深度分布、镀层厚度、镀层均一性，以及表面、界面等信息。 |
二、组织分析
| 仪器名称 | 图片 | 仪器性能及应用 |
| 金相显微镜 |  | 主要用于材料微观组织分析。
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| 扫描电子显微镜 |  | 主要用于材料微观组织分析，晶粒取向分析。
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| 透射电子显微镜 |  | 主要用于组织微观形貌及物相结构分析
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| X射线衍射分析仪 |  | 主要用于样品的物相分析（定性分析）晶粒尺寸测定、分析，纳米粒度大小及粒径分布，物相定量分析、薄膜物相鉴定，薄膜高温分析，测量纤维或高分子样品的物相、取向度等 ，织构分析、应力分析。 |
| 电解抛光腐蚀仪 |  | 主要用于彩色金相样品及电镜样品制备。
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